工作职责： 1. 建立和优化缺陷检测程式，建立和开发新的缺陷检测能力，推动缺陷检测程式的创新来提高各类对影响晶片产率的缺陷的检测率； 2. 建立逻辑晶片工艺的缺陷表征技术和数据库，以及缺陷数据管理和分析能力； 3. 与工艺整合和制程部门合作，探测并消除系统缺陷，提高晶片的产率； 4. 失控事件的检测和原因分析，与设备和制程部沟通并跟进找出原因；进行线上产品的分析处理，加快从事件发生到被探测到和采取措施的时间，以减少损失； 5. 负责支持在线缺陷监控，建立和维护缺陷监控SPC系统，减低各类缺陷问题对晶片产率的风险。 任职资格： 1.硕士及以上学历，物理，化学，数学、材料、微电子、集成电路等相关专业； 2.表达能力佳、具有团队合作精神； 3.具有英语四级或以上证书。