1. 良率测试和分析：熟悉CP测试流程和测试仪器及相关测试程式的建立，通过良率数据分析以及logic/Memory diagnosis定位对失效产品进行EFA/PFA分析，找出影响良率的根本因素 2. 良率监控系统建立：建立良率报表、良率数据统计分析，监控良率趋势，为生产计划提供准确的良率数据，并及时预警潜在的良率问题 3. 确立良率窗口：通过分析corner lot以及量产大量lots variation的CP测试结果，帮助优化各测试项的spec limitation，找出最终的与器件电性相关的yield window, 确立产品的实际最佳device target。