1. EL段（有机功能层/阴极等）膜厚量测方案与作业SOP，管控日常量测全流程及数据追溯。 2. 负责椭偏仪、光谱反射仪、台阶仪等量测设备的点检、校准、维护与故障排查，保障设备精度与稼动率。 3. 通过SPC、CPK工具监控膜厚制程波动，定位异常根因，联动工艺/设备部门输出改善方案并跟踪验证。 4. 针对新膜材、新工艺开发适配量测方法，优化测试参数与采样规则，提升量测效率与重复性。 5. 整理量测数据与分析报告，沉淀技术规范，支撑工艺验证与良率提升。