1. DFT设计与实现 负责芯片可测试性设计（DFT），包括 Scan Insertion、MBIST（存储器内建自测试）、ATPG（自动测试向量生成）的架构设计与实现 制定DFT方案，确保测试覆盖率 ≥99%（Stuck-at/Timing-aware），优化测试时间与硬件开销 2. 回片测试与良率提升 主导芯片回片后的 CP/FT测试（晶圆测试/成品测试），协助ATE搭建测试硬件环境（Load Board/Probe Card） 分析测试数据（Shmoo图、良率分布），定位测试失效原因（如时序违例、电源噪声、封装缺陷） 协同设计团队进行良率调试（Yield Debug），提出DFT结构优化或工艺改进建议 3. DFT流程开发与优化 开发自动化DFT流程脚本（Tcl/Python/Perl） 建立DFT设计规则检查（DRC）流程，确保与后端物理设计、时序收敛的协同 探索先进工艺（